3-D-Scantrajektorien für die dimensionelle Röntgen-Computertomographie durch adaptive Messobjektneigung Lorenz Butzhammer
Untersuchungen zur rasterkraft- und konfokalmikroskopischen Charakterisierung nanometrologischer Referenzkörper Janik Schaude
Abschlussbericht DFG-Forschungsgruppe FOR 2271, 2. Phase. Prozessorientiertes Toleranzmanagement mit virtuellen Absicherungsmethoden Unknown author
Hochfrequent fokusabstandsmodulierte Konfokalsensoren für die Nanokoordinatenmesstechnik Andreas Gröschl
Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop Yiting Wu